檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "Shih-Hsiang Hsu".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="奈米級"
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隨著電子產業的進步,傳統型金氧半電晶體在尺寸微縮化之後面臨一些可靠度問題,例如短通道效應、熱載子效應、汲極引起位障降低效應、閘極引起汲極漏電流效應。然而,穿隧型場效電晶體的工作原理與傳統金氧半元件有…